Oxford牛津CMI900(X荧光镀层测厚仪)
CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。
高性能X射线荧光光谱仪
- 快速精确的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大提高了灵敏度
- 简单的元素区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素
- 性能优化，测量元素范围广： 可预设参数
CMI900 提供800多种预设应用参数/方法
- 杰出的长期稳定性：
- 自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果
- 简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供必要的纠正
坚固耐用的设计
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可以在实验室或生产线上操作
- 坚固的工业设计
- 经行业验证的技术，在全球销售量超过3000台
- 电子元件
有效调整生产过程，从而提高生产力
- 确保元件可靠性
- 优化质量控制，从而确保产品生命周期
- 分析导电性镀层金和钯的厚度
- 测量电脑硬盘上的NiP层厚度