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品牌：Persee普析
全反射X荧光（TXRF）分析技术是近年来才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF利用全反射技术，使样品荧光的杂散本底比X荧光能量色散谱仪（EDXRF）本底降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏度，避免了XRF测量中通常遇到的本底增强或减弱效应；同时TXRF技术又继承了EDXRF方法的优越性。它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL级以下）、用样量少（μL、ng级）、准确度高（可用内标法）、简便、快速，而且可进行无损分析，成为一种不可替代的全新的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会，该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段、在原子谱仪领域内处于领先地位。
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X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg 量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料、环境、冶金样品的常规分析。XRF作为一种无损检测技术，可以直接应用于现场、原位分析，在材料分析领域占有重要地位。
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X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg 量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料、环境、冶金样品的常规分析。XRF作为一种无损检测技术，可以直接应用于现场、原位分析，在材料分析领域占有重要地位。
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X射线衍射仪是对晶体物质和材料的组成和原子级结构进行研究和鉴定的分析仪器。
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品牌：Persee普析
原子荧光光度计是一款极具特色的分析仪器，具有灵敏度高、多元素同时测量分析、谱线简单、曲线线性好、线性范围宽等优点。适用于As、Se、Pb、Bi、Te、Sn、Sb、Hg、Cd、Zn、Ge等十一种元素的日常痕量分析，可广泛应用于食品卫生、环境监测、化妆品检验、医药卫生、农业环保、地质冶金等领域。
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作为专业的分析仪器制造企业，北京普析通用仪器有限责任公司长期致力于原子吸收分光光度计的研制开发。
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品牌：Persee普析
原子吸收光谱仪作为测定痕量金属元素的重要手段，具有灵敏度高、准确度好、分析速度快等优点。在地质、冶金、材料、医药、环境、化学等各个领域得到了广泛的应用，现正成为一种非常重要的仪器分析方法。
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北京普析通用仪器有限责任公司作为分析仪器的专业制造企业，多年的紫外分光光度计设计和制造经验在TU-19系列上得到了更充分地体现，TU-1901、TU-1900紫外可见分光光度计以其出色的技术指标稳定、可靠的工作特性、友好直观的显示界面和流畅的人机对话操作，成功实现了超高精度和可靠性测量的严格要求，能极大地满足最专业用户分析工作需求。
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北京普析通用仪器有限责任公司作为分析仪器的专业制造企业，多年紫外分光光度计设计和制造经验在TU-1810系列上得到了更充分的体现。
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品牌：Persee普析
北京普析通用仪器有限责任公司一流的光谱仪器制造技术在T6系列产品上得到了最新的展现。高智能化的模块式设计，确保仪器上乘的质量、出色的技术指标与稳定的工作性能，满足您多层次的分析应用需求。
